Atıf Formatları
Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi
  • IEEE
  • ACM
  • APA
  • Chicago
  • MLA
  • Harvard
  • BibTeX

B. Düşün Et Al. , "Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi," 26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı , vol.1, no.1, İzmir, Turkey, pp.1-4, 2018

Düşün, B. Et Al. 2018. Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi. 26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı , (İzmir, Turkey), 1-4.

Düşün, B., Bulut, İ., Aygün, R. C., & Yavuz, A. G., (2018). Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi . 26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı (pp.1-4). İzmir, Turkey

Düşün, Burak Et Al. "Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi," 26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı, İzmir, Turkey, 2018

Düşün, Burak Et Al. "Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi." 26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı , İzmir, Turkey, pp.1-4, 2018

Düşün, B. Et Al. (2018) . "Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi." 26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı , İzmir, Turkey, pp.1-4.

@conferencepaper{conferencepaper, author={Burak Düşün Et Al. }, title={Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi}, congress name={26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı}, city={İzmir}, country={Turkey}, year={2018}, pages={1-4} }