Mikron hassasiyetinde otomatik ve manuel delik honlama (ölçülendirme) mekanizması

---

Abdioğlu M., Yeşil Ü., Ekmen B.

Patent, BÖLÜM E Sabit Yapılar (İnsaat), Buluşun Tescil No: 2023 016778 , Standart Tescil, 2025, Tescil Edildi

• Fikri Mülkiyet: Patent
• Başvuru Yapılan Ülke/Kuruluş: Türkiye
• Buluşun Durumu: Tescil Edildi
• Başvuru Tarihi: 8.12.2023
• Tescil Tarihi: 21.10.2025