Characterization of Metal Ag Au Pc thin film Semiconductor Structures by Impedance Spectroscopy Technique

ORUÇ Ç., Erkol A., ALTINDAL A.

Science & Applications of Thin Films, Conference & Exhibition SATF 2016, 19 - 23 Eylül 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet