Akademik Veri Yönetim Sistemi
| Giriş, Mikro ve Nano İmalat, Mikro ve Nano Metroloji, Genel Terimler, Mikro ve Nano İmalatta Ölçme Hataları ve Belirsizlik, Hata Analizi, Boyutsal Ölçümlerde Belirsizlik Analizi / Örnekleme, Ölçüm Verilerinin Analizi, Ölçüm Sistem Analizi / Mikro ve Nano Ölçüm Sistemleri İçin Kalibrasyon Teknolojisi, Ekipmanlar ve Standartlar, Kalibrasyon Zinciri ve İzlenebilirlik / Mikro ve Nano İmalatta Toleranslandırma / Mikro ve Nano Ölçme Sistemleri / 3B Mühendislik Yüzeylerinin Mikro ve Nano Ölçme Sistemleri ile Analizi, Yüzey Ölçüm Metodları / Koordinat Metrolojisi, Minyatür Koordinat Ölçme Makineleri (CMM), Minyatür CMM Probları, Minyatür CMM’lerin Kalibrasyonu/ Optik Metrolojinin Temelleri, Mikro ve Nano İmalatta Optik Metroloji /Endüstriyel Bilgisayarlı Tomografi/ Mikro ve Nano Ölçme Tekniği Uygulamaları, Otomotiv, Uzay, Uçak ve Savunma Sanayiinde Mikro ve Nano Metroloji Çözümleri / Biyomedikal İmplantların Boyut ve Yüzey Ölçümlerinde Kullanılan Mikro ve Nano Ölçme Teknikleri/Sensörler ve Hassas Ölçüm Cihazları. |