Tip-2 Bulanık Küme Yaklaşımı Çerçevesinde Nicel Kontrol Diyagramlarının Tasarımı ve Bir Uygulama
Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Endüstri Mühendisliği, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2019
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: ATAULLAH TURGUT
Danışman: İhsan Kaya
Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
Özet:Shewhart tarafından geliştirilen kontrol diyagramları kalitenin yedi temel araçlarından biri olup işletmelerin müşteri beklentilerini karşılayabilmeleri ve rekabetsel avantajlarını sürdürebilmeleri için istenilen kalite seviyesinde üretim yapabilmelerini sağlayan önemli istatiksel kalite kontrol araçlarından biridir. Kontrol diyagramları sayesinde üretim süreçleri etkin bir şekilde izlenebilmekte ve süreç değişkenliği ortaya çıktığı anda müdahale edilebilmektedir. Klasik nicel kontrol diyagramlarını inşa ederken ölçümü yapan operatör veya ölçüm aletlerinden kaynaklı hatalar meydana gelebilmektedir. Bu durumda bazı araştırmacılar Zadeh tarafından geliştirilen bulanık mantık metodolojisini kullanarak klasik (tip-1) bulanık kontrol diyagramları geliştirmişlerdir. Geliştirilen tip-1 bulanık kontrol diyagramlarında; süreç içerisinden alınan örneklere belli bir tolerans aralığı verilerek ölçüm sonunda elde edilen sayıyı bulanık sayıya dönüştürerek kontrol diyagramları inşa edilmiştir. Bu sayede ölçüm işlemleri süreci içerisinde personel, metot veya ölçüm aletleri sebebiyle oluşabilecek hatalar temsil edilmeye çalışılmıştır. Son dönemlerde tip-1 bulanık kümelerin haricinde kontrol diyagramlarının tasarlanmasında kararsız, sezgisel ve tip-2 bulanık küme türleri de kullanılmaya başlanmıştır. Tip-2 bulanık kümelerde üyelik derecelerinin de bulanık olması nedeniyle tip-1 bulanık kümelere göre daha esnek bir modellemeye olanak tanımaktadır. Bu sebeple kontrol sürecinin daha esnek ve hassas olabilmesi için bulanık kümelerin yeni uygulamalarından olan tip-2 bulanık küme yaklaşımı etkin şekilde kullanılabilir. Bu tez çalışması kapsamında tip 2 bulanık sayıları kullanarak nicel kontrol diyagramlarından X-R, X-S, I-MR kontrol diyagramları geliştirilmiş ve elektronik cihaz imalatı yapan bir firmanın kalite süreçlerinde uygulanmıştır. Yapılan çalışma sonucunda tip-2 bulanık küme yaklaşımıyla oluşturulan kontrol diyagramlarının süreç içerisindeki küçük değişimleri efektif bir şekilde ortaya çıkardığı gözlemlenmiştir. İzlenecek olan kalite karekteristiğinin ölçüm değerleri hassas ve küçük değerlere dayalı ise sürecin gözlemlemlenmesinde klasik kontrol diyagramları yerine tip-2 bulanık kontrol diyagramlarının kullanılması daha verimli olacaktır.