X-işini floresans spektroskopisinde standartsiz kantitatif simülasyon metodu


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2024

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Ulaş Keskin

Danışman: Orhan İçelli

Özet:

XRF sistemlerinin çeşitli avantajları olmasına rağmen kurulum maliyetlerinin yüksek olması, numune hazırlama ve ölçüm süreçleri araştırmacıları XRF analizinde yeni yaklaşımlara yönlendirmektedir. XRF analizinde kantitatif analiz yapılması için numune hazırlama süreçlerini veya st6andart numune gereksinimi gibi zorlukları vardır. Bu çalışmada numune hazırlama sürecinden kaynaklanan geleneksel sorunların çözümü için MCNP 6.2 ile yeni ve pratik bir yöntem olarak Standartsız Kantitatif Simülasyon Metodu (SKSM) önerilmektedir. MCNP 6.2 ile gerçek bir deney düzeneği tasarlamak için SS303, SS304, SS316 ve SS430 paslanmaz çelikleri seçilmiştir. SKS Metodu kullanılarak her bir elemente özel kalibrasyon eğrileri, paslanmaz çelik için MCNP ile elde edilen spektrumlar kullanılarak oluşturulmuştur. Bu yöntemle tüm analiz süreçlerinde her paslanmaz çelik için tek bir deneysel spektrum kullanılarak kantitatif analizler yapıldı. Bu çalışma ile yalnızca bir deneysel ölçüm ile SKSM kullanılarak kantitatif analiz yapmak mümkün olmuştur.