Karbon nanotup iceren kolloidal karışımların ve kaplamaların TEM ve AFM teknikleriyle karakterizasyonu
19. Ulusal Elektron Mikroskopi Kongresi, 01 Haziran 2009, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet