Karbon nanotup iceren kolloidal karışımların ve kaplamaların TEM ve AFM teknikleriyle karakterizasyonu

ÜSTÜNDAĞ C. B.

19. Ulusal Elektron Mikroskopi Kongresi, 01 Haziran 2009

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet