Fonksiyonel güvenlik sistemlerinde tanılama kapsam katsayısı ile periyodik test süresinin ilişkisi


ÜSTOĞLU İ., Kaymakçı Ö. T.

TOK Konferansı, 01 Eylül 2011

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet