Yıldız Teknik Üniversitesi
Akademik Veri Yönetim Sistemi
Araştırmacı Girişi
English
Tümü
Yayınlar
Projeler
Ödüller
Fikri Mülkiyet
Araştırmacılar
Tezler
Detaylı Arama
Ana Sayfa
Son Eklenen Yayınlar
Fonksiyonel güvenlik sistemlerinde tanıl...
Fonksiyonel güvenlik sistemlerinde tanılama kapsam katsayısı ile periyodik test süresinin ilişkisi
Atıf İçin Kopyala
ÜSTOĞLU İ.
,
Kaymakçı Ö. T.
TOK Konferansı, 01 Eylül 2011
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli:
Evet