PK modeling: obtaining PK profiles despite sparse sampling
ECCMID, Vienna, Avusturya, 10 - 13 Nisan 2010, ss.117-118, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Vienna
- Basıldığı Ülke: Avusturya
- Sayfa Sayıları: ss.117-118
- Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır