Akımsız Nikel Kaplanmış B4C Partiküllerinin Mikroyapısal Karakterizasyonu

KILIÇARSLAN A., TOPTAN F., KERTİ I.

19. Ulusal Elektron Mikroskobu Kongresi (Uluslararası Katılımlı, Türkiye, 22 - 25 Haziran 2009, ss.65

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.65
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet