Modeling and Performance Analysis of the IEEE 802.11 MAC for VANETs under Capture Effect

Shah A. S., İlhan H., Türeli M. S. U.

IEEE Wireless and Microwave Technology Conference (WAMICON), Florida, Amerika Birleşik Devletleri, 8 - 09 Nisan 2019, ss.1-5, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/wamicon.2019.8765446
  • Basıldığı Şehir: Florida
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.1-5
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet