AC Dielectric Spectroscopy of Multilayer Thin Film Dependency on Cr Thickness

OKUTAN M.

Ulusal Nanobilim ve Nanoteknoloji Konferansı (NanoTR5) 08-12 Haziran 2009., 01 Haziran 2009

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır