AC Dielectric Spectroscopy of Multilayer Thin Film Dependency on Cr Thickness
Ulusal Nanobilim ve Nanoteknoloji Konferansı (NanoTR5) 08-12 Haziran 2009., 01 Haziran 2009, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır