I-V Characterization of The Irradiated ZnO:Al Thin Film on p-Si Wafers by Reactor Neutrons
ICEM 2014, International Conference on Energy and Management, 01 Haziran 2014, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet