“Investigation of Sol-Gel Deposited ZnO on c-Si By Admittance Measurement As SIS Structure

Bulgurcuoğlu A. E., Atalay A. Y., Kavak P., Özdemir O., Kutlu K.

EMRS Spring Meeting 2015, Lille, Fransa, 11 Mayıs 2015, ss.54, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Lille
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Sayfa Sayıları: ss.54
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet