“Investigation of Sol-Gel Deposited ZnO on c-Si By Admittance Measurement As SIS Structure

BULGURCUOĞLU A. E., Atalay A. Y., KAVAK P., ÖZDEMİR O., KUTLU K.

EMRS Spring Meeting 2015, Lille, Fransa, 11 Mayıs 2015, ss.54

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Lille
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Sayfa Sayıları: ss.54
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet