Yapisal kod klon analizinde metrik tabanli teknikler

Kapdan M., AKTAŞ M. S., Yiʇit M.

7th Turkish National Software Engineering Symposium, UYMS 2013, İzmir, Türkiye, 26 Eylül 2013, cilt.1072 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 1072
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet