Yapisal kod klon analizinde metrik tabanli teknikler

Kapdan M., AKTAŞ M. S., Yiʇit M.

7th Turkish National Software Engineering Symposium, UYMS 2013, İzmir, Türkiye, 26 Eylül 2013, cilt.1072, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 1072
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet