PECVD tekniğiyle biriktirilen MIS(Cr/a-SiNx:H/c-Si) Yapının DLTS Ölçümleri

ÖZDEMİR O.

(Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır