PECVD tekniğiyle biriktirilen MIS(Cr/a-SiNx:H/c-Si) Yapının DLTS Ölçümleri

---

Atıf İçin Kopyala

ÖZDEMİR O.

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır