Similar admittance behavior of amorphous silicon carbide and nitride dielectrics within the MIS structure


ÖZDEMİR O., Atılgan İ., Katırcıoğlu B.

Vacuum, cilt.82, sa.6, ss.566-573, 2008 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 82 Sayı: 6
  • Basım Tarihi: 2008
  • Dergi Adı: Vacuum
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.566-573
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet