Cobalt-titanium multilayer thin films: Effect of thickness of titanium spacer layer on impedance properties

Sentürk E., Erkovan M., Okutan M., Kösemen A., Öztürk S., Şahin Y.

Materials Science in Semiconductor Processing, cilt.30, ss.482-485, 2015 (SCI-Expanded, Scopus)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 30
• Basım Tarihi: 2015
• Doi Numarası: 10.1016/j.mssp.2014.10.053
• Dergi Adı: Materials Science in Semiconductor Processing
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
• Sayfa Sayıları: ss.482-485
• Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet