Labview Kullanılarak Dönen Tek Ters Sarkacın Gerçek Zamanlı Kayan Kip Kontrolü

ALTUN Y.

5th International Advanced Technologies Symposium, 01 Mayıs 2009

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet