I–V Characterization of the Irradiated ZnO:Al Thin Film on P-Si Wafers By Reactor Neutrons
Energy Systems and Management, Ali Nezihi Bilge,Ayhan Özgür Toy,Mehmet Erdem Günay, Editör, Springer, London/Berlin , Basel, ss.171-178, 2015
- Yayın Türü: Kitapta Bölüm / Araştırma Kitabı
- Basım Tarihi: 2015
- Yayınevi: Springer, London/Berlin
- Basıldığı Şehir: Basel
- Sayfa Sayıları: ss.171-178
- Editörler: Ali Nezihi Bilge,Ayhan Özgür Toy,Mehmet Erdem Günay, Editör
- Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet