Comparison between Open-Ring and Closed-Ring Grids Reliability

---

Atıf İçin Kopyala

WADI M., BAYSAL M. , SHOBOLE A.

2017 4TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRICAL AND ELECTRONIC ENGINEERING (ICEEE 2017), Ankara, Türkiye, 8 - 10 Nisan 2017, ss.290-294

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Doi Numarası: 10.1109/iceee2.2017.7935836
• Basıldığı Şehir: Ankara
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.290-294