Nanodot Exposure In Dıfferent Sıze Wıth Usıng Electron Beam Lıthography

Kuruoğlu F., Yavuzçetin O., Erol A., Çalışkan M. , Serin M.

TFD 32 International Physics Congress, Muğla, Türkiye, 6 - 09 Eylül 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye