Neural network based transistor modeling and aspect ratio estimation for Yital 1 5 micron process

---

AVCI M., BABAÇ M. Y., YILDIRIM T.

Third International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO’2003), 3 - 07 Aralık 2003, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet