The determination of the interface-state density distribution from the capasitance-frequency measurements in Au/n-Si Schottky Barrier diodes

NUHOĞLU Ç.

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, cilt.31, sa.1, ss.119-123, 2002 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 31 Sayı: 1
  • Basım Tarihi: 2002
  • Dergi Adı: JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.119-123
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır