The Basic Principles of the Transmission Electron Microscope and Analysis of Structural Defects in GaN by High Resolution Electron Microscopy

YEŞİLKAYA S. S.

Summer School and Workshop on the Physics of Materials, Thessaloniki, Greece., 01 Ekim 1999, cilt.1, ss.33-39

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 1
  • Sayfa Sayıları: ss.33-39
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet