Solving Test Suite Reduction Problem Using Greedy and Genetic Algorithms

Yamuç A., CİNGİZ M. Ö., BİRİCİK G., KALIPSIZ O.

9th INTERNATIONAL CONFERENCE on ELECTRONICS, COMPUTERS and ARTIFICIAL INTELLIGENCE, Targoviste, Romanya, 29 Haziran 2017, ss.1-5

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Targoviste
  • Basıldığı Ülke: Romanya
  • Sayfa Sayıları: ss.1-5
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet