Dielectric Strength of WO3 Thin Films By Admittance and Ellipsometry Measurements

ÖZDEMİR O., CHOI F. P., BULGURCUOĞLU A. E., KUTLU K.

4th International Advances in Applied Physics and Materials Science Congress & Exhibition, Muğla, Türkiye, 24 Nisan 2014, ss.346

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.346
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet