Dielectric Strength of WO3 Thin Films By Admittance and Ellipsometry Measurements

ÖZDEMİR O., GÖKDEMİR F. P., SAATCİ A. E., KUTLU K.

4th International Advances in Applied Physics and Materials Science Congress & Exhibition, Muğla Fethiye, Türkiye, 24 - 27 Nisan 2014, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla Fethiye
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet