Electrical characterization of sol-gel derived TiO2 Films on N/P c-Si substrates by admittance measurement

SAATCİ A. E., GÖKDEMİR F. P., ÖZDEMİR O., KUTLU K.

AMWC 2013: Advanced Materials World Congress, İzmir Çeşme, Türkiye, 16 - 19 Eylül 2013, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: İzmir Çeşme
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet