Oxide Layer Thickness Dependent Electrical Characterization of Al / Al2O3 / CdS MOS Structures

Serin M., Çalışkan M., Moğulkoç M.

TPS Turkish Physical Society 29th International Physics Congress, Muğla, Türkiye, 5 - 08 Eylül 2012, ss.607, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.607
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet