Investigation of carbon rich a-SiCx:H film through MIS and MIM structures by DLTS and admittance measurements

ÖZDEMİR O.

(Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır