Investigation of carbon rich a-SiCx:H film through MIS and MIM structures by DLTS and admittance measurements

---

Atıf İçin Kopyala

ÖZDEMİR O.

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır