Characterization of Metal Ag Au Pc thin film Semiconductor Structures by Impedance Spectroscopy Technique

---

ORUÇ Ç., Erkol A., ALTINDAL A.

Science & Applications of Thin Films, Conference & Exhibition SATF 2016, 19 - 23 Eylül 2016, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet