Excess Capacitance Due To Minority Carrier Injection in CrSi2/p-c-Si Isotype Junction


KUTLU K.

Japanese Journal of Applied Physics, sa.49, 2010 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Basım Tarihi: 2010
  • Dergi Adı: Japanese Journal of Applied Physics
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet