Zararlı Mobil Yazılımların N-gram Tabanlı Derin Öğrenme ile Tespit Edilmesi

Düşün B., Bulut İ., Aygün R. C., Yavuz A. G.

26. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı, İzmir, Türkiye, 02 Mayıs 2018, cilt.1, sa.1, ss.1-4, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 1
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.1-4
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet