Conduction Mechanism Analysis in beta-FeSi2/n-Si heterojuction Through J-V-T Measurement

ÖZDEMİR O., Tatar B., Yılmazer D., Gökdemir P., Kutlu K.

Semiconductor Science and Technology, cilt.23, 2008 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 23
  • Basım Tarihi: 2008
  • Dergi Adı: Semiconductor Science and Technology
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Yıldız Teknik Üniversitesi Adresli: Evet